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深圳市微碧半导体有限公司

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IPB35N12S3L26ATMA1与VBGL1121N参数对比报告

2026-08-11

N沟道功率MOSFET参数对比分析报告

一、产品概述

  • IPB35N12S3L26ATMA1:onsemi(安森美)OptiMOS?-T系列N沟道功率MOSFET,专为汽车应用设计(AEC-Q101认证)。耐压120V,采用先进沟槽技术,提供低导通电阻与高可靠性,工作结温高达175°C。封装:TO-263-3(D2PAK)。适用于汽车电子、高效率DC-DC转换器等应用。

  • VBGL1121N:VBsemi N沟道120V功率MOSFET,采用SGT(Shielded Gate Trench)技术,具有极低的导通电阻和栅极电荷,100% RG 与 UIS 测试。封装:TO-263。适用于开关电源(SMPS)、UPS、同步整流、DC-DC转换器、电机驱动及照明等高频高效应用。

二、绝对最大额定值对比

参数符号IPB35N12S3L26ATMA1VBGL1121N单位
漏-源电压VDSS120120V
栅-源电压VGSS±20±20V
连续漏极电流 (Tc=25°C)ID3570A
脉冲漏极电流IDM140210A
雪崩能量(单脉冲)EAS175 (ID=17A)830mJ
雪崩电流IAS35105A
最大功率耗散 (Tc=25°C)PD71300W
工作/存储温度Tj, Tstg-55 ~ +175 / -55 ~ +175-55 ~ +150 / -55 ~ +150°C

分析:VBGL1121N 在电流承载能力上优势显著,其连续电流(70A)和脉冲电流(210A)远高于 IPB35N12S3L26ATMA1(35A/140A)。同时,VBGL1121N 的雪崩能量(830mJ)和最大功率耗散(300W)也大幅领先,表明其在应对过载和恶劣工况时更具鲁棒性。IPB35N12S3L26ATMA1 的主要优势在于其汽车级认证和更高的工作结温(175°C)。

三、电特性参数对比

3.1 导通特性

参数符号IPB35N12S3L26ATMA1VBGL1121N单位
漏-源击穿电压V(BR)DSS120 (最小)120 (最小)V
栅极阈值电压VGS(th)1.2 ~ 2.42.5 ~ 4.5V
导通电阻 (VGS=10V)RDS(on)20.3 典型 / 26.3 最大 @ ID=35A8 典型 / 未提供最大 @ ID=30A
导通电阻 (VGS=4.5V)RDS(on)24.8 典型 / 32.2 最大 @ ID=35A9 典型 / 未提供最大 @ ID=30A
正向跨导gfs未提供75 (典型 @ ID=30A)S

分析:两款器件击穿电压相同。IPB35N12S3L26ATMA1 的阈值电压范围更低(1.2~2.4V),更易于在低压栅极驱动下开启。虽然两者导通电阻的测试电流条件略有不同,但数据表明 VBGL1121N 的导通电阻典型值(8mΩ)显著低于 IPB35N12S3L26ATMA1(20.3mΩ),意味着其导通损耗更低。

3.2 动态特性

参数符号IPB35N12S3L26ATMA1VBGL1121N单位
输入电容Ciss2070 ~ 27007100 (典型)pF
输出电容Coss460 ~ 600246 (典型)pF
反向传输电容Crss50 ~ 7521 (典型)pF
总栅极电荷Qg30 ~ 3969 ~ 96nC
栅-源电荷Qgs8 ~ 1015.7 ~ 16.7nC
栅-漏(米勒)电荷Qgd5 ~ 816.9 ~ 未提供nC

分析:VBGL1121N 的输入电容显著更大,但输出电容和反向传输电容更低,这与其 SGT 结构特性有关。尽管其总栅极电荷(Qg)高于 IPB35N12S3L26ATMA1,但极低的导通电阻可以部分抵消驱动损耗的增加。IPB35N12S3L26ATMA1 具有更优的 FOM(RDS(on)*Qg),栅极驱动需求更低。

3.3 开关时间

参数符号IPB35N12S3L26ATMA1VBGL1121N单位
开通延迟时间td(on)6 (典型)20 ~ 35ns
上升时间tr4 (典型)110 ~ 220ns
关断延迟时间td(off)18 (典型)33 ~ 75ns
下降时间tf3 (典型)90 ~ 135ns

分析:根据典型值或测试条件内的数据,IPB35N12S3L26ATMA1 的开关速度(尤其是上升和下降时间)远快于 VBGL1121N,这得益于其 OptiMOS? 技术和更低的栅极电荷,非常适合高频开关应用。VBGL1121N 的开关时间参数范围较宽,在实际应用中需注意驱动电路设计。

四、体二极管特性

参数符号IPB35N12S3L26ATMA1VBGL1121N单位
二极管正向压降VSD0.6 ~ 1.2 @ IF=35A0.8 ~ 1.2 @ IF=10AV
反向恢复时间trr79 (典型)60 (典型)ns
反向恢复电荷Qrr150 (典型)0.9 ~ 1.8μC
峰值反向恢复电流IRRM未提供11 ~ 20A

分析:两款器件均提供了体二极管参数。VBGL1121N 的反向恢复时间典型值更短(60ns),且提供了反向恢复电荷和峰值电流范围,便于评估二极管在同步整流等应用中的反向恢复损耗。IPB35N12S3L26ATMA1 的二极管参数在更高电流(35A)下测得。

五、热特性

参数符号IPB35N12S3L26ATMA1VBGL1121N单位
结-壳热阻RθJC2.10.5°C/W
结-环境热阻 (最小焊盘)RθJA6240°C/W

分析:VBGL1121N 的热特性极为出色,其结-壳热阻(0.5°C/W)远低于 IPB35N12S3L26ATMA1(2.1°C/W),这表明其芯片到封装外壳的热传导效率极高,结合其 300W 的功率耗散能力,非常适合高功率密度和高热耗散的应用。

六、总结与选型建议

IPB35N12S3L26ATMA1 优势VBGL1121N 优势
◆ 汽车级 AEC-Q101 认证,可靠性高
◆ 更高工作结温(175°C)
◆ 更低的栅极电荷(30~39nC),驱动简单
◆ 开关速度极快(tr/tf 仅个位纳秒级)
◆ 优异的开关性能 FOM
◆ 极高的电流承载能力(70A连续/210A脉冲)
◆ 极低的导通电阻(典型 8mΩ),导通损耗小
◆ 卓越的热性能(RθJC=0.5°C/W)与功率耗散能力(300W)
◆ 极高的单脉冲雪崩能量(830mJ),鲁棒性强
◆ 体二极管反向恢复时间短(60ns)

选型建议

  • 选择 IPB35N12S3L26ATMA1:当应用对可靠性有严苛要求(如汽车电子)、工作频率非常高(数百kHz至MHz)、栅极驱动能力有限或工作环境温度极高时,此器件是理想选择。

  • 选择 VBGL1121N:当应用追求极高的电流输出能力、极低的导通损耗、强大的抗过载与雪崩能力,以及需要优异散热性能的大功率场合(如大电流DC-DC、电机驱动、大功率电源)时,该器件具有显著优势。其SGT技术在高效率应用中表现突出。

备注

本报告基于 IPB35N12S3L26ATMA1(onsemi)和 VBGL1121N(VBsemi)官方数据手册生成。所有参数值均来源于原厂数据手册,设计选型请以官方最新文档和实际应用验证为准。

VBGL1121N.PDF